天瑞芯片镀层厚度膜厚仪是由江苏天瑞仪器股份有限公司研发、生产并销售天瑞芯片镀层厚度膜厚仪。
天瑞芯片镀层厚度膜厚仪采用上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。Quanxin的光路，geng短的光程，相较传统光路，信号采集效率提 升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，不仅可适应微小产品，同时也兼顾了台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程多点测试，能自动完成对多个样品多个点的测试，dada提高测样效率。自带数据校对系统，让您永远不再为数据突然变化而担心。

检测实例
天瑞芯片镀层厚度膜厚仪可针对单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等进行kuaisujingzhun测试。